Forschungsdatenbank der Universität in Tübingen

Institut für Angewandte Physik

Tel./ Fax.:

• Elektronenstrahlmesstechnik mit Feldemissionsquellen (1990-92)
• In-line Elektronenbildwandler und digitale Bildverarbeitung (1990-92)
• Spitzen-Abtastmikroskopie (1990-92)
• Elektronen-Vielstrahl-Lithographie (1990-92)
• Elektronenholographie und -Interferometrie (1990-92)
• Ein neuartiges Elektroneninterferometer: Neue Möglichkeiten zur Loesung grundlegender Probleme der Physik (1990-92)
• Grenzflächenreaktionen an MIS (Metall-Isolator-Silizium)-Schichten (1990-92)
• Metall-Isolator-Metall (MIM)-Systeme, Herstellun Charakterisierung, Anwendung (1990-92)
• Feld- und Bahnberechnung in elektronenoptischen Systemen (1990-92)
• Mikroprozessoren und Mikrocomputer im physikalischen Experiment (1990-92)

  ---

• Elektronenholographie in Biologie (SPP 'Neue mikroskopische Techniken für Biologie und Medizin') (1994-96)
• Ortsaufgelöste Potentialmessungen mit piezolektrischen Spitzenabtastverfahren zur selbstorganisierten Strukturbildung in dotierten Halbleitersystemen (1994-95)
• Spitzenabtastmikroskopie (1993-95)
• Hochauflösender CCD-Bildwandler für niederenergetische Elektronen. Bezeichnung: Niederenergie-Elektronenbildwandler (1993-95)
• Nachweis der Wellennatur von Ionenstrahlen mittels eines Biprismainterferometers. Bezeichnung: Ionen-Biprismainterferometer (1993-95)
• Untersuchung der physikalischen Eigenschaften einer hochpolarisierten EuS-Feldemissionselektronenquelle (1993-94)
• Elektronenstrahlerzeuger (1993-94)
• Ortsaufgelöste Potentialmessungen zur selbstorganisierten Strukturbildung in dotierten Halbleitersystemen (1993-95)
• Miniaturisierte elektronenoptische Systeme (1994-96)
• Nanostrukturen (1994-96)
• Spitzenabtastmikroskopie zur Untersuchung von Festkörperoberflächen (1994-96)
• Feld- und Bahnberechnung in elektronenoptischen Systemen (1994-96)
• Metall-Isolator-Metall (MIM) Dünnschichtsysteme, Herstellung, Charakterisierung, Anwendung (1994-96)
• Elektronen-Holographie und Elektronen-Interferometrie (1994-96)
• Neue elektronenoptische Bauelemente (1994-96)
• Niederspannungsrasterelektronenmikroskopie (1994-96)
• Elektronenbeugung und -interferenz (1994-96)
• Elektronenmikroskopische Charakterisierung molekularer Erkennungsstrukturen (1994-96)
• Elastische Elektronenstreuung an Festkörperoberflächen (1994-96)
• Aufbau eines Biprismainterferometers für schwere geladene Teilchen (Ionen) (1994-96)
• Kontrastentstehung im Rasterelektronenmikroskop (1994-96)
• Polarisierte Feldelektronenquelle und 'electron antibunching' (1994-96)

HOME SUCHEN KONTAKT LINKS